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  • 光谱偏振双折射穆勒阵列测量设备
    光谱偏振双折射穆勒阵列测量设备

    光偏振态、双折射（RO、Rth）和穆勒矩阵的光谱测量 ・测量波长：400 至800 nm，分辨率：2 nm ・偏振态（斯托克斯谱）测量 ・双折射（高达100,000 m）、Rth 分析 ・使用穆勒矩阵评估偏振特性 ・高度可定制，适用于反射率测量等。

    更新时间：2025-09-16
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