光偏振态、双折射（RO、Rth）和穆勒矩阵的光谱测量
・测量波长：400 至800 nm，分辨率：2 nm
・偏振态（斯托克斯谱）测量
・双折射（高达100,000 m）、Rth 分析
・使用穆勒矩阵评估偏振特性
・高度可定制，适用于反射率测量等。

光谱偏振/双折射/穆勒阵列测量设备

光谱偏振仪Sci-Ral

光偏振态、双折射（RO、Rth）和穆勒矩阵的光谱测量

・测量波长：400 至800 nm，分辨率：2 nm

・偏振态（斯托克斯谱）测量

・双折射（高达100,000 m）、Rth 分析

・使用穆勒矩阵评估偏振特性

・高度可定制，适用于反射率测量等。

双折射测量

・该工具可测量整个可见光范围内光 学薄膜和波片的延迟和取向，从而实 现延迟波长色散的实际测量和评估。

・它支持高达100,000 nm 的高分辨 率相位差分析以及手动Rth 分析。

穆勒矩阵

穆勒矩阵测量可用于分别分析所有偏 振特性（线性二向色性、圆二向色性、 双折射、旋光性和消偏振），从而能够评估材料特性，例如相位差膜中的旋光性以及聚合物材料和纳米颗粒所 表现出的线性二向色性。穆勒矩阵还 可用于模拟透射光和反射光。

偏振（斯托克斯光谱）测量

这是Sci-Ral的基本功能，用于测量光学元件等的透射/反射光的偏振状态。 Sci-Ral可以由用户自由设置，因此可以用于各种偏振测量。

通过测量透过圆偏光膜的光强，您可以轻松评估其特性：

- 识别圆偏光的旋转方向

- 实现圆偏光时的波长- 圆偏光片发挥其功能的波长范围

除了光学元件之外，还可以测量液晶投影仪等光学系统发出的光的偏振，以及偏振荧光等发光。