Photron在线双折射分布检测系统可用于防止不良品流出并迅速探知缺陷的双折射相位差分布检测系统KAMAKIRI

Photron离线双折射分布检测系统可用于防止不良品流出并迅速探知缺陷的双折射相位差分布检测系统KAMAKIRI

光偏振态、双折射（RO、Rth）和穆勒矩阵的光谱测量 ・测量波长：400 至800 nm，分辨率：2 nm ・偏振态（斯托克斯谱）测量 ・双折射（高达100,000 m）、Rth 分析 ・使用穆勒矩阵评估偏振特性 ・高度可定制，适用于反射率测量等。

VR-Pancake 镜片光轴相对角度测量仪主要规格$n视野范围：至大φ80mm$n像素：至大616 x 514 画素(约30万画素)$n测量波长：466nm,543nm,650nm(可定制)

VR-Pancake 镜片内应力相位差测量仪主要规格$n视野范围：至大φ80mm$n像素：至大616 x 514 画素(约30万画素)$n测量波长：466nm,543nm,650nm(可定制)

Photron在线/离线双折射分布检测系统可用于防止不良品流出并迅速探知缺陷的双折射相位差分布检测系统KAMAKIRI