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    X射线荧光镀层测厚仪

    X射线荧光镀层X射线荧光镀层测厚仪可完成镀层厚度测量、元素分析、电镀液分析。最多同时测量5层（4层镀层+底材），每层可同时分析10种元素。成分测量可同时分析25种元素。1纳米至120um可测测厚仪

    更新时间：2025-03-10
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