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X射线荧光镀层测厚仪
产品简介

X射线荧光镀层X射线荧光镀层测厚仪可完成镀层厚度测量、元素分析、电镀液分析。最多同时测量5层(4层镀层+底材),每层可同时分析10种元素。成分测量可同时分析25种元素。1纳米至120um可测测厚仪

产品型号:
更新时间:2025-03-10
厂商性质:代理商
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X射线荧光镀层测厚仪产品介绍

1.非接触,无损检测;

2.测量范围广;13~92元素范围可测;

3.样品无需前处理,可以直接测试;

4.超高效的分析速率,1秒即可出结果;

5.具备成分分析功能,可同时测定多种元素。

X射线荧光镀层测厚仪可完成镀层厚度测量、元素分析、电镀液分析。最多同时测量5层(4层镀层+底材),每层可同时分析10种元素。成分测量可同时分析25种元素。1纳米至120um可测。

产品规格

X射线荧光镀层测厚仪

Axis Pro F

AxisProFC的无覆盖型。适用于采用手套箱进行采样。

X射线荧光镀层测厚仪X射线荧光镀层测厚仪 X射线荧光镀层测厚仪

手套箱示意图

全电动系统

5µm大小的对象品也可实现稳定采样,设置好样品后仅需移动PC鼠标,标准配备电动交接次级台

采集样品的交接由程序控制,不会失败,采用角度固定臂,设置更加简单

通用规格

X射线荧光镀层测厚仪

AxisPro FC/SS/F 通用应用

X射线荧光镀层测厚仪

采样仪器

软件主要功能

X射线荧光镀层测厚仪




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