产品分类
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X射线荧光镀层测厚仪产品介绍
1.非接触,无损检测;
2.测量范围广;13~92元素范围可测;
3.样品无需前处理,可以直接测试;
4.超高效的分析速率,1秒即可出结果;
5.具备成分分析功能,可同时测定多种元素。
X射线荧光镀层测厚仪可完成镀层厚度测量、元素分析、电镀液分析。最多同时测量5层(4层镀层+底材),每层可同时分析10种元素。成分测量可同时分析25种元素。1纳米至120um可测。
产品规格
Axis Pro F
AxisProFC的无覆盖型。适用于采用手套箱进行采样。
手套箱示意图
全电动系统
5µm大小的对象品也可实现稳定采样,设置好样品后仅需移动PC鼠标,标准配备电动交接次级台
采集样品的交接由程序控制,不会失败,采用角度固定臂,设置更加简单
通用规格
AxisPro FC/SS/F 通用应用
采样仪器
软件主要功能