多功能通用晶圆搬运机系统YIT系列对应各种检查装置，适用于晶圆、玻璃相关产品自动搬运系统

显微镜下微取样系统$nCollectionPro：微小矿物自动挑选/采集/集聚系统$n将耗费矿物学研究者时间和精力的挑选、采集、集聚作业变得省力。$n通过结合图像处理系统和AxisPro，可使用自动程序完成对象品的观察、挑选、采集、集聚。$n也可用于进行晶片、玻璃、膜滤器等异物扫描检查的污染分析仪（图像处理、挑选、数据收集、坐标&图像获取）。

X射线荧光镀层X射线荧光镀层测厚仪可完成镀层厚度测量、元素分析、电镀液分析。最多同时测量5层（4层镀层+底材），每层可同时分析10种元素。成分测量可同时分析25种元素。1纳米至120um可测测厚仪

超微小纳米压痕仪通过减少测量环境的干扰实现高数据再现性，适用于0.5uN-2000mN的广泛实验负载。

显微镜LED无掩膜曝光系统 UTA-IA系列是不需要使用光罩就可以完成曝光的Pattern投影式曝光设备。