欢迎进入深圳山河精测科技有限公司网站!
18926772129
产品中心

Product Center

当前位置:首页  -  产品中心  -  半导体产品  -  
  • Dual vision -2.0x/-8.0x光学系统

    Dual vision -2.0x/-8.0x 是一款双光路、双倍率光学系统,支持2/3英寸相机,镜头倍率-2.0x/-8.0x,物方分辨率1.15um,并且自带同轴点光源照明以及环形光源。镜头接口是C口,可根据客户定制不同的镜头。

    更新时间:2025-07-22
    产品型号:
    浏览量:245
  • FC UD Optics -3.0x上下对位光学系统

    FC UD Optics -3.0x 是一款上下对位光学系统,支持1.1英寸相机,镜头倍率-3.0x,物方分辨率1.15um,并且自带同轴点光源照明,也可以集成环形光源。镜头接口是C口,可根据客户定制不同的镜头。

    更新时间:2025-07-22
    产品型号:
    浏览量:217
  • Up Down Look-0.84x上下对位光学系统

    Up Down Look-0.84x是一款上下对位光学系统,支持1/2.5英寸相机,镜头倍率-0.84x,物方分辨率6um,并且自带同轴点光源照明,也可以集成环形光源。镜头接口是C口,可根据客户定制不同的镜头。

    更新时间:2025-07-22
    产品型号:
    浏览量:199
  • YIT系列多功能通用晶圆搬运机系统

    多功能通用晶圆搬运机系统YIT系列对应各种检查装置,适用于晶圆、玻璃相关产品自动搬运系统

    更新时间:2025-04-27
    产品型号:YIT系列
    浏览量:523
  • 显微镜下微取样系统

    显微镜下微取样系统$nCollectionPro:微小矿物自动挑选/采集/集聚系统$n将耗费矿物学研究者时间和精力的挑选、采集、集聚作业变得省力。$n通过结合图像处理系统和AxisPro,可使用自动程序完成对象品的观察、挑选、采集、集聚。$n也可用于进行晶片、玻璃、膜滤器等异物扫描检查的污染分析仪(图像处理、挑选、数据收集、坐标&图像获取)。

    更新时间:2025-03-10
    产品型号:
    浏览量:421
  • X射线荧光镀层测厚仪

    X射线荧光镀层X射线荧光镀层测厚仪可完成镀层厚度测量、元素分析、电镀液分析。最多同时测量5层(4层镀层+底材),每层可同时分析10种元素。成分测量可同时分析25种元素。1纳米至120um可测测厚仪

    更新时间:2025-03-10
    产品型号:
    浏览量:334
共 8 条记录,当前 1 / 2 页  首页  上一页  下一页  末页  跳转到第页 

TEL:18926772129

扫码加微信