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Dual vision -2.0x/-8.0x 是一款双光路、双倍率光学系统,支持2/3英寸相机,镜头倍率-2.0x/-8.0x,物方分辨率1.15um,并且自带同轴点光源照明以及环形光源。镜头接口是C口,可根据客户定制不同的镜头。
FC UD Optics -3.0x 是一款上下对位光学系统,支持1.1英寸相机,镜头倍率-3.0x,物方分辨率1.15um,并且自带同轴点光源照明,也可以集成环形光源。镜头接口是C口,可根据客户定制不同的镜头。
Up Down Look-0.84x是一款上下对位光学系统,支持1/2.5英寸相机,镜头倍率-0.84x,物方分辨率6um,并且自带同轴点光源照明,也可以集成环形光源。镜头接口是C口,可根据客户定制不同的镜头。
显微镜下微取样系统$nCollectionPro:微小矿物自动挑选/采集/集聚系统$n将耗费矿物学研究者时间和精力的挑选、采集、集聚作业变得省力。$n通过结合图像处理系统和AxisPro,可使用自动程序完成对象品的观察、挑选、采集、集聚。$n也可用于进行晶片、玻璃、膜滤器等异物扫描检查的污染分析仪(图像处理、挑选、数据收集、坐标&图像获取)。
X射线荧光镀层X射线荧光镀层测厚仪可完成镀层厚度测量、元素分析、电镀液分析。最多同时测量5层(4层镀层+底材),每层可同时分析10种元素。成分测量可同时分析25种元素。1纳米至120um可测测厚仪