圆满收官 | 深圳山河精测亮相第27届中国国际光电博览会

光学检测设备与AR虚像测量、半导体封装对位光学系统同台亮相，获业界广泛关注。本届展会上，深圳山河精测携旗下多款光学检测设备参展，全面覆盖材料应力分析、显微观测与取样、AR显示检测、半导体封装与贴合精密对位检测等多个关键应用领域，集中展示了公司在精密光学测量仪器与系统级解决方案上的深厚积累。参展产品全景本次展出产品分为三大板块：·精密检测设备：双折射应力仪、显微机械取样系统、3D超景深显微镜、AR双目虚像检测系统·AR虚像测试镜头：AR-Testing-72/AR-Testin...

博曼XRF镀层测厚仪的操作流程简单，数据可追溯

在精密制造与材料科学领域，镀层厚度直接决定产品的耐腐蚀性、导电性或耐磨寿命。博曼XRF镀层测厚仪，正是利用X射线荧光原理，在不破坏样品的前提下，快速给出镀层厚度的“数字答案”。其工作逻辑可拆解为三步：激发、识别、换算。一步：激发——X射线“叩门”仪器内部产生一束高能X射线，照射到被测镀层表面。当射线能量高于镀层金属原子的内层电子结合能时，电子被击出，原子进入不稳定的激发态。这一过程如同用钥匙强行打开一扇门，门后是原子内部结构的“待机状态”。第二步：识别——荧光信号“自报家门”...

显微镜下微取样系统优点：省、准、活

在生命科学和材料分析的日常里，研究人员常面临一个尴尬：样品太大，目标太小。传统方法要么破坏整体结构，要么只能“连汤带水”地取一勺。显微镜下微取样系统的出现，像给科学家配了一双能在显微镜视野里自由伸缩的“隐形筷子”，专门解决“从复杂背景中挑出特定微小区域”的难题。一、工作原理：看准了再夹，夹完不洒微取样系统的核心逻辑，可以拆解为“看、对、切、吸”四步。步骤一是“看”。系统将高倍光学显微镜与精密机械臂整合，操作者通过屏幕实时观察样品表面，找到目标细胞、晶体或缺陷区域。这相当于给机...

第九届AIAR智能眼镜技术论坛

深圳山河精测亮相第九届AI/AR智能眼镜技术论坛，三大创新产品赋能智能眼镜精密检测2026年6月5日，第九届AI/AR智能眼镜技术产业论坛将在深圳隆重举行。本次论坛聚焦智能眼镜核心技术、光学显示、微型化零部件、整机集成及供应链协同等关键环节，深入探讨AI/AR眼镜从样机到量产的技术挑战与解决方案。作为精密检测领域的专业企业，深圳山河精测科技有限公司将盛装出席本次论坛，现场展出双折射应力仪、自主设计的AR双目虚像检测系统以及半导体封装上下对位贴合系统三款核心产品。三大核心产品，...

2026上海慕尼黑光博会

追光赴沪，智启新程｜深圳山河精测亮相第二十一届慕尼黑上海光博会，四大光电精密系统重磅展出2026年3月18日—20日，亚洲光电盛会——第二十一届慕尼黑上海光博会在上海新国际博览中心盛大启幕。作为深耕光学检测、精密光电装备领域的创新企业，深圳山河精测携四款自研核心系统亮相展会，面向半导体先进封装、光学材料检测、微纳加工、AR光学显示等前沿赛道，展示精密光电设备创新成果，与行业同仁共探光电产业发展新机遇。慕尼黑上海光博会汇聚激光、光学、光电检测、精密制造上下游千家企业，是前沿技术...

超微小纳米压痕仪的工作原理基于连续刚度测量法

在材料科学领域，理解一种物质在微小尺度下的力学行为，常常需要借助特殊的工具。超微小纳米压痕仪正是为此而生——它通过模拟传统硬度测试的原理，将压头尺寸缩小到纳米级别，从而在较小的区域内获取材料的力学参数。超微小纳米压痕仪的基本工作原理基于连续刚度测量法。仪器配备一个金刚石或蓝宝石制成的压头，通常为三棱锥形(如玻氏压头)或球形。测试时，压头以设定的加载速率垂直压入样品表面，同时一个高精度的位移传感器实时记录压头的位置变化。当压头接触样品后，系统会持续增加载荷，使压头逐渐深入材料内...

显微镜LED无掩膜曝光系统的优势体现在哪几个方面？

在微纳加工领域，如何将设计好的图案准确转移到材料表面，一直是技术核心。传统方法依赖物理掩膜版——如同用模板遮挡颜料，但制作掩膜版成本高、周期长。显微镜LED无掩膜曝光系统的出现，提供了一种灵活的数字光刻方案。显微镜LED无掩膜曝光系统的核心，是将显微镜的光路与数字光调制器(如数字微镜器件DMD)结合。其工作流程可分三步：1.光源与调制：高功率LED发出均匀光束，照射到DMD芯片上。DMD由数百万个微镜组成，每个微镜对应一个像素，可独立偏转。当设计图案以数字文件形式输入系统时，...

探秘AR虚像成像测试-Conoscope系统：如何捕捉不可见的虚像

在现代光学检测领域，虚像的测量一直是个技术难题。所谓虚像，是指光线经过光学系统后反向延长线汇聚形成的像，它无法直接投射到屏幕上，却真实存在于光学系统的成像过程中。AR虚像成像测试-Conoscope系统正是为解决这一难题而设计的专业工具。AR虚像成像测试-Conoscope系统的核心原理基于偏振光干涉与波前分析。当一束准直偏振光穿过待测光学元件(如透镜、波片或液晶器件)后，其偏振态与相位分布会因元件特性而发生改变。系统通过一个锥光镜(Conoscope)将不同角度的出射光线汇...