圆满收官 | 深圳山河精测亮相第27届中国国际光电博览会

光学检测设备与 AR 虚像测量、半导体封装对位光学系统同台亮相，获业界广泛关注。

本届展会上，深圳山河精测携旗下多款光学检测设备参展，全面覆盖材料应力分析、显微观测与取样、AR 显示检测、半导体封装与贴合精密对位检测等多个关键应用领域，集中展示了公司在精密光学测量仪器与系统级解决方案上的深厚积累。

参展产品全景

本次展出产品分为三大板块：

·精密检测设备：双折射应力仪、显微机械取样系统、3D 超景深显微镜、AR 双目虚像检测系统

·AR 虚像测试镜头：AR-Testing-72 / AR-Testing-60deg / AR-Testing-35deg 三款高性能 AR 虚像测量系统

·半导体封装与贴合对位光学：Up Down Look-0.7x、Dual Vision -2.0x/-8.0x、FC UD Optics -3.0x

精密检测设备：从材料分析到 AR 显示评价

双折射应力仪可对玻璃及透明高分子材料的内部应力分布进行高精度测量，服务消费电子盖板与光学元件的品质管控；显微机械取样系统与 3D 超景深显微镜提供从精密取样到微观形貌观测的一体化解决方案；AR 双目虚像检测系统面向AR眼镜显示质量评价，可对虚像距离、视场角、畸变、亮度均匀性等关键指标进行自动化测量。

AR-Testing 系列：三款高性能 AR 虚像测量镜头

AR-Testing 系列是本次展出的重点产品之一，三款镜头覆盖从超大视场到超高像素密度的多样化测试需求，吸引了众多 AR 光学从业者驻足交流：

AR-Testing-72

高性能 AR 虚像测量系统，镜头设计靶面支持最大全画幅 43.2mm，支持 61M（9568×6380）相机分辨率，对应镜头支持最大对角线视场角 72°，满足大视场 AR 光学测试需求。

AR-Testing-60deg 双目测试

高性能 AR 虚像测量系统，支持 12M（4096×3000）相机分辨率，对应镜头支持最大对角线视场角 60°，并支持双目测试功能，适用于双目 AR 眼镜的虚像质量评价。

AR-Testing-35deg

高性能 AR 虚像测量系统，支持 65M（9344×6000）超高相机分辨率，对应镜头支持最大对角线视场角 35°，面向对成像细节与像素密度要求很高的测试场景。

半导体封装与贴合：精密对位与精密检测光学系统

面向半导体封装与贴合工艺中的精密对位与精密检测需求，山河精测展出多款对位光学系统，以单相机双视野与双光路双倍率设计，帮助客户在封装贴合设备上实现更高效、更精准的上下对位检测：

Up Down Look-0.7x

单相机双视野产品，一套光学系统即可实现上下视野成像，简化封装贴合设备的对位光路配置，提升对位效率。

Dual Vision -2.0x/-8.0x 双光路双倍率

双光路、双倍率光学系统，支持 2/3 英寸相机，镜头倍率 -2.0x / -8.0x，兼顾大视场搜索与高倍率细节对位。

FC UD Optics -3.0x

上下对位光学系统，支持 1.1 英寸相机，镜头倍率 -3.0x，为半导体封装与贴合提供高精度上下对位检测能力。

展会成果与展望

展会期间，山河精测团队与来自消费电子、车载显示、AR/VR 光学、半导体封测等领域的众多客户与合作伙伴进行了深入交流，现场达成多项合作意向。观众对 AR-Testing 系列虚像测量镜头与半导体封装对位光学系统表现出浓厚兴趣，充分印证了公司在光学检测领域的技术实力与市场认可度。

未来，深圳山河精测将继续深耕精密光学测量技术，持续打磨产品性能与交付品质，为客户创造更大价值。未能到场的客户与合作伙伴，欢迎随时联系我们，获取产品详细资料与演示安排。

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