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提供创新型TFM功能的奥林巴斯超声相控阵探伤仪OmniScan X3
信心满满,昭然可见
奥林巴斯超声相控阵探伤仪OmniScan X3是一个完备的相控阵工具箱。 其性能强大的工具,包括全聚焦方式(TFM)成像和高级可视化能力,在其高质量成像功能的支持下,可使您更加充满信心地完成检测。
威力强大,小巧便携
OmniScan X3 64相控阵探伤仪沿用了已
经现场验证、坚固耐用、轻盈便携的Omn
iScan X3外壳,其强大的聚焦功能得到了
更大的晶片孔径容量的支持,可使您充分利
用64晶片相控阵探头,进行128晶片孔径
的TFM检测。 您可以利用这款仪器的增强
性能,迎接检测较厚、衰减性较强材料的挑
战,并提升您的潜力,为更广泛的应用开
发新程序。
改进的相控阵技术
速度可达到OmniScan MX2探伤仪的3倍(至大脉冲重复频率)
单独的衍射时差(TOFD)菜单,加快了校准工作流程
800%的高波幅范围,减少了重新扫查的需要
机载双晶线阵和双晶矩阵探头的支持性能,加速了创建设置的过程
使用相控阵技术简化了腐蚀监测
利用相控阵技术进行腐蚀检测具有很多优势,其中包括较大的覆盖范围和出色的分辨率。 但是,熟练掌握相控阵技术具有一定的挑战性。 OmniScan X3探伤仪通过精心设计的软件和简单流畅的菜单将各种高级功能(闸门同步)组合在一起,可使您更加轻松地获得准确的数据。 得益于其A扫描同步处理和手动时间校正增益(TCG),您可以快速配置您的设置。
创新、高效的TFM(全聚焦方式)
提前确认TFM(全聚焦方式)声波覆盖范围
声学影响图(AIM)工具可以基于您的TFM
(全聚焦方式)模式、探头、设置和模拟反
射体,即时提供灵敏度的可视化模型。
声学影响图(AIM)工具消除了扫查计划创
建过程中的猜测因素,因为屏幕上会显示某
个声波组(TFM模式)的效果图,使您看
到灵敏度消失的位置,并对扫查计划进行
相应的调整。
产品技术规格