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  • X射线荧光镀层测厚仪

    X射线荧光镀层X射线荧光镀层测厚仪可完成镀层厚度测量、元素分析、电镀液分析。最多同时测量5层(4层镀层+底材),每层可同时分析10种元素。成分测量可同时分析25种元素。1纳米至120um可测测厚仪

    更新时间:2025-03-10
    产品型号:
    浏览量:767
  • 超微小纳米压痕仪

    超微小纳米压痕仪通过减少测量环境的干扰实现高数据再现性,适用于0.5uN-2000mN的广泛实验负载。

    更新时间:2025-03-10
    产品型号:
    浏览量:764
  • 显微镜LED无掩膜曝光系统 UTA-IA系列

    显微镜LED无掩膜曝光系统 UTA-IA系列是不需要使用光罩就可以完成曝光的Pattern投影式曝光设备。

    更新时间:2025-03-10
    产品型号:
    浏览量:540
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