深圳山河精测闪耀第26届中国国际光电博览会，多款创新产品重磅亮相

深圳山河精测闪耀第26届中国国际光电博览会，多款创新产品重磅亮相

深圳，2024年9月——第26届中国国际光电博览会（CIOE）在深圳会展中心隆重开幕。深圳山河精测携多款光学检测设备盛装出席，集中展示了其在VR/AR、精密光学测量等领域的最新研发成果和技术实力。

本次展会上，深圳山河精测重点推出了四款核心产品，吸引了众多行业专家、客户及合作伙伴的驻足关注与深入交流。众多专业观众驻足交流，更有多家客户携带样品前来实测验证，展现了行业对检测设备的强烈需求。

VR-Pancake镜片光轴相对角度测量仪/相位差测量仪是针对新一代VR Pancake光学模组量产而打造的专业检测方案。这款设备能够高效、精准地测量镜片的关键光学参数，如：圆偏振度（椭圆率）测量、RGB三原色测量、评估相位差分布、测量薄膜层贴合后的相对角度、测量QWP和偏振片的相对轴方向。解决其在生产过程中的核心痛点，为提升VR头显的成像质量与用户体验提供了可靠的计量保障。

3D超景深显微镜则展现了在微观形貌测量领域的深厚积累。该产品具备超大景深和真三维测量能力，可广泛应用于半导体、材料科学、精密制造等领域，满足客户对复杂表面高精度测量的需求。

尤为引人注目的是，深圳山河精测此次带来了自主设计的AR双目虚像检测系统。该系统可对AR眼镜、车载HUD等产品的虚像质量，如：1视场角测量（FOV测量）、2.亮度测量（Brightness）、3.SFR测量、4.MTF测量、5.FoFo对比度测量（FoFo Contrast）、6.ANSI对比度测量（ANSI Contrast)、7.TV畸变测量（TV Distortion）、8.亮度均匀性测量（Uniformity）、9.双目合像误差测量（Binocular Fusion accuracy)、10.左右显示亮度差异测量（brightness diff)。一致性与舒适度等进行全面客观的评估，是推动AR产品性能升级的重要工具。

此外，深圳山河精测在国内展出了其先进的光谱偏振/双折射/穆勒阵列测量设备，可对材料的偏振特性、双折射效应等进行纳米级精度的快速、全面测量，对于液晶面板、光学薄膜、应力玻璃等材料的研发与质量控制具有革命性意义。光偏振态、双折射（RO、Rth）和穆勒矩阵的光谱测量、双折射测量、穆勒矩阵：穆勒矩阵测量可用于分别分析所有偏 振特性（线性二向色性、圆二向色性、 双折射、旋光性和消偏振），从而能 够评估材料特性，例如相位差膜中的 旋光性以及聚合物材料和纳米颗粒所 表现出的线性二向色性。穆勒矩阵还 可用于模拟透射光和反射光

中国国际光电博览会享有“全球光电行业风向标”的美誉。深圳山河精测通过此次参展，不仅巩固了与现有客户的合作关系，更与众多海内外新客户建立了联系，进一步提升了品牌在行业内市场的影响力。