Photron离线双折射分布检测系统可用于防止不良品流出并迅速探知缺陷的双折射相位差分布检测系统KAMAKIRI

产品规格

1在本公司规定的润量条件下使用基准相位因子进行评价的性能

2相位屋值是10nm 以上时的重复精度

3希望变更中心波长时，请另行语询

4每台相机的测屋宽匿

5希望应对更高的搬送速度时，请另行咨询

6WPA-View 是Photonic-Lattice产品的名称

双折射不均匀检出示例

Photron离线双折射分布检测系统可用于防止不良品流出并迅速探知缺陷的双折射相位差分布检测系统KAMAKIRI

薄膜检测

Photron离线双折射分布检测系统应用于透明光学薄膜(PVA,COC,COP,TAC,PC,PET,PMMA,PI)   的光学歪曲和配向的不规则评估 ·检测

玻璃检测 ·版状物检测

可用于MTF 或透射率等光学性能低下的评估，以及造成裂纹的残留应力分布的可视化等。另外，近 年来在车载显示屏用高品质玻璃的双折射分布评估的应用上，KAMAKIRI的面测量有显著进步

透明树脂成型品检测

在透明树脂制品的内部应力、模具内的树脂流动、微小缺陷可视化以及成形条件的优良化上都有广泛应用。

KAMAKIRI提供的附加价值

通过高速面扫描将双折射测量带入新次元

从「可视化」到「检测的自动化」

防止不良品流出&实现快速的缺陷检测

伴随着显示器的高清晰化和高对比度化，以及用户的画质提高，在薄膜面内也 需要更高的相位差和主轴方位的均匀性。

此外，从环保的观点出发，废弃品的标准设置变得十分重要。

本公司偏振光高速相机及扫描系统组合而成的KAMAKIRI, 可以在极短时 间内对双折射分布进行高度检测和数据记录。

丰富的引进实绩

2014年末开始销售后，日本、韩国、中国的光学薄膜制造商和玻璃、透镜成型制造商已经采用了超过50台  KAMAKIRI 系列产品。特别是光学薄膜制造商的生产线多种多样，各自的要求不同。本公司在听取客户的生 产线状况的同时，提出了优良的系统结构。迄今为止，制作及引进实绩包含了从200mm 宽的小型系统到超过 5m 宽的大型系统。

导入流程

很多客户希望在初次引进之前预先确认系统的检查效果。

对于初次进行样品评估的客户将予以免费。(相关样本条件和演示网页的信息，请参阅第14页)

大部分的客户都是先引进台式KAMAKIRI,  在确认过面测量的效果之后制定专有的OK/NG 评判基准并优化判定算法之后再引进 在线型的KAMAKIRI 系统。由于台式KAMAKIRI 可以改造为在线型KAMAKIRI,  对于消除运用上的疑难问题，并以少量的投入建 立检查体制非常有利。

定期检查 · 定期维护

建立了服务体制，使客户的装置能够经常舒适地运用，并且能够应对突发性的修理等。根据客户的机种型号 和使用计划，定期进行检查并提供需更换的零部件。引进时请参考《定期检查维护服务合同》。

KAMAKIRI产 品 一 览

我们提供用于在线品质 ·生产管理的在线型系列，以及适用于抽样检查及研发的台式系列。

实时检测画面显示

通过实时显示光学变形、宽度方向及输送方向的趋势 图，能够在生产现场及时了解所需信息。

数据处理流程以及应用示意图

适用于客户生产线的客制化

提供适用于客户生产线的系统运用及结构。

根据需要检测的不均程度以及产量决定空间分辨率以及存储容量。 另外，根据生产线和工厂空间，设计制作框体。

如果商谈内容含有机密信息，可以签署保密协议(NDA),    请随时与我们联系。

在线的部分检查及试制生产线的评估

KAMAKIRI 双折射测量模块

可安装在其他设备上，构成专用小型检查系统

KAMAKIRI 系统的测量保证及检查体制

本公司设有相位差、主轴方位的校正系统，利用该系统校正过的标准相位子可以对客户 的设备进行校准维护。

此外，我们也会对测量性能进行定期检查。

本公司也提供备选的简易标准相位子，以供客户进行日常检测。

KAMAKIRIX-Stage

WPA-KAMAKIRI

KAMAKIRI MEM-AS

Photron 的光学产品介绍

除了适用于薄膜、玻璃、树脂成型品评估的KAMAKIRI 系列以外，我们 还提供面向生产品质管理和生产技术评价的红外线相机系统。

(此类产品只在日本国内销售)